SWT-7000Ⅲ+FN-325 Probe
Loại sản phẩm: Máy đo dộ dày lớp phủ
Mã sản phẩm: SWT-7000Ⅲ+FN-325 Probe
Nhà cung cấp: Anh Nghi Son
Xuất xứ: Japanese
Hãng sản xuất: Sanko
Giá : Vui lòng liên hệ
Ứng dụng: Dùng để đo độ dày lớp phủ trên nền vật liệu từ tính và không từ tính
Đặc trưng sản phẩm: Đầu dò FN-325 có thể tích hợp với các dòng máy đo SWT-7000 Ⅲ, cơ cấu hoạt động đơn giản và dễ dàng , tự động thiết lập để đo độ dày lớp phủ trên nền vật liệu từ tính và cả vật liệu ko từ tính.
Specifications
Probe type : Dual FN-325 (exclusive for SWT-7000Ⅲ series)
Measuring method : Electromagnetic/Eddy current dual use
Measuring range : Ferrous：0～3.00mm, Nonferrous：0～2.50mm
Substrate detection : Automatic or manual switching
Display resolutions : 1μm：0～999μm
By switching,
0.1μm：0～400μm,
0.5μm：400～500μm,
0.01mm：（ferrous 1.00～3.00mm), （nonferrous 1.00～2.50mm）
Accuracy (place the probe perpendicularly : Ferrous ＆nonferrous dual use
to the flat face) 0～100μm：±1μｍ or ±2％ the read value
（ferrous）101μm～3.00mm：±2％
（nonferrous）101μm～2.50mm：±2％
Probe : One point contact constant pressure type, with V cut φ13×52mm, 72g
Option : V type probe adaptors (3 types: less Φ5, Φ5～10, Φ10～20 )
Accessories : Calibration standards (plastic foils)
Zero plate （ferrous, nonferrous dual）
Measuring objectives :
Fe substrate: coating, lining, thermal spraying, plating on magnetic metal like iron, steel (except electrolyte nickel plating)
NFe substrate: insulated films on non-magnetic metal like aluminum, copper
Menu sản phẩm
Hổ trợ trực tuyến
|
|
|
|
|
|
 mia@ansvietnam.com
|
|
|
huy@ansgroup.asia
|
|
 Ms. Đài - Mia: |
|
|
Mr. Huy: |
|
Lượt truy cập
|
Đang online | 1 |
|
Lượt truy cập | 207135 |